SJ 2355.2-1983 半导体发光器件测试方法 正向压降的测试方法
部分标准内容：中华xxxx国电子工业部部标准半导体发光器件测试方法
正向压降的测试方法免费标准下载网bzxz
本标准适用于发光二极管、数码管、符号管等的正向压降的测试。SJ2355.2—83
测试正向压降总的要求应符合SJ2355.1一83《半导体发光器件测试方法总则》。
2正向压降V=的测试
2.1定义
每个发光单元通过的正向电流为规定值时，正负极之间所产生的电压降。2.2电原理图
正向压降的测试原理图应符合下图。恒流源
2.3...................
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