SJ 2355.1-1983 半导体发光器件测试方法 总则
部分标准内容：中华xxxx国电子工业部部标准SJ 2355.183bzxZ.net
半导体发光器件测试方法
1983-08-15发布
1984-07-01实施
中华xxxx国电子工业部
中华xxxx国电子工业部部标准半导体发光器件测试方法
SJ2355.1-83
本标准适用于半导体发光器件光、电参数的测试。其光电参数的测试按相应的标准的规定进行。1测试光学参数时，光参数的测试系统的误差不大于25%。2对测试仪表的要求
2.1直流电表的误差
2.1.1电参数?..................
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