SJ/T 10735-1996 半导体集成电路 ＴＴＬ电路测试方法的基本原理
部分标准内容：UDC62T.382.049.75-181.4:621.317.08GB
中华xxxx国G家标准
GB3439—82
JSJ/T10735-96
半导体集成电路TTL电路
测试方法的基本原理
Generalprinciples of measuringmethodsof TTL circuits for semiconductor integrated circuits1982-12-31发布
1983-10-01实施
G家标准局批准
TTTKKAca
中华xxxx国G家标准
半导体集成电路TTL申路
测试方法的基本原理
Generalprinciplesofmeasuringmethodsof...................
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