SJ/T 10482-1994 半导体中深能级的瞬态电容测试方法
部分标准内容：中华xxxx国电子行业标准
SJ/T 10482-94
半导体中深能级的瞬态电容
测试方法
Test method far characterizing semiconductordeep levels by transient capacitante techniques1994-04-11发布
1994-10-01实施
中华xxxx国电子工业部发布中华xxxx国电子行业标准
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