52ky2 发表于 2026-5-27 00:30:01

GB/T 17473.3-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定

本标准规定了贵金属浆料方阻的测试方法。本标准适用于贵金属烧结型浆料方阻的测定。非贵金属浆料亦可参照使用。 GB/T 17473.3-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定 GB/T17473.3-1998 ...................
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