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行业标准

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  • SJ 3246-1989 铝镓砷(ＡＬｘＧａ１－ｘＡｓ)材料中铝组分的光荧光测试方法

    SJ 3246-1989 铝镓砷(ＡＬｘＧａ１－ｘＡｓ)材料中铝组分的光荧光测试方法

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    2025-11-22

  • SJ 3247-1989 同型砷化镓外延层厚度的红外干涉测试方法

    SJ 3247-1989 同型砷化镓外延层厚度的红外干涉测试方法

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    2025-11-22

  • SJ 3248-1989 重掺砷化镓和磷化铟载流子浓度的红外反射测试方法

    SJ 3248-1989 重掺砷化镓和磷化铟载流子浓度的红外反射测试方法

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    2025-11-22

  • SJ 3249.1-1989 半绝缘砷化镓和磷化铟体单晶材料的电阻率测试方法

    SJ 3249.1-1989 半绝缘砷化镓和磷化铟体单晶材料的电阻率测试方法

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    2025-11-22

  • SJ 3249.3-1989 半绝缘砷化镓中铬浓度的红外吸收测试方法

    SJ 3249.3-1989 半绝缘砷化镓中铬浓度的红外吸收测试方法

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    2025-11-22

  • SJ 3250-1989 气体激光器功率系列等级和能量等级

    SJ 3250-1989 气体激光器功率系列等级和能量等级

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    2025-11-22

  • SJ 3251-1989 地面炮瞄雷达天线通用技术条件

    SJ 3251-1989 地面炮瞄雷达天线通用技术条件

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  • SJ 3252-1989 普及级小型录音机运带机构总技术条件

    SJ 3252-1989 普及级小型录音机运带机构总技术条件

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  • SJ 3253-1989 编写电子行业计量器具检定规程的一般规定

    SJ 3253-1989 编写电子行业计量器具检定规程的一般规定

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    2025-11-22

  • SJ 3258-1989 普及级小型录音机总技术条件

    SJ 3258-1989 普及级小型录音机总技术条件

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    2025-11-22

  • SJ 3259-1989 音叉、音片谐振器总技术条件

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  • SJ 3260-1989 音叉、音片谐振器电性能测试方法

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  • SJ 3261-1989 ＲＷＨ１型温度熔断器

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  • SJ 3265-1989 电子琴电声性能测量方法

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    2025-11-22

  • SJ 3267-1989 电真空器件用镀镍铁带

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    2025-11-22

  • SJ 11151-1997 电视游戏机干扰特性限值和测量方法

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    2025-11-22

  • SJ 3272-1990 电阻器的安全要求

    SJ 3272-1990 电阻器的安全要求

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    2025-11-22

  • SJ 3273-1990 高压件和组件的安全要求

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    2025-11-22

  • SJ 20011-1992 半导体分立器件 ＧＰ、ＧＴ和ＧＣＴ级ＣＳ１型硅Ｎ沟道耗尽型场效应?

    SJ 20011-1992 半导体分立器件 ＧＰ、ＧＴ和ＧＣＴ级ＣＳ１型硅Ｎ沟道耗尽型场效应?

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    2025-11-22

  • SJ 20012-1992 半导体分立器件 ＧＰ、ＧＴ和ＧＣＴ级ＣＳ４型硅Ｎ沟道耗尽型场效应?

    SJ 20012-1992 半导体分立器件 ＧＰ、ＧＴ和ＧＣＴ级ＣＳ４型硅Ｎ沟道耗尽型场效应?

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    2025-11-22

  • SJ 20013-1992 半导体分立器件 ＧＰ、ＧＴ和ＧＣＴ级ＣＳ１０型硅Ｎ沟道耗尽型场效?

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    2025-11-22

  • SJ 20015-1992 半导体分立器件 ＧＰ、ＧＴ和ＧＣＴ级３ＤＧ１３０型ＮＰＮ硅高频小?

    SJ 20015-1992 半导体分立器件 ＧＰ、ＧＴ和ＧＣＴ级３ＤＧ１３０型ＮＰＮ硅高频小?

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    2025-11-22

  • SJ 20016-1992 半导体分立器件 ＧＰ、ＧＴ和ＧＣＴ级３ＤＧ１８２型ＮＰＮ硅小功率?

    SJ 20016-1992 半导体分立器件 ＧＰ、ＧＴ和ＧＣＴ级３ＤＧ１８２型ＮＰＮ硅小功率?

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    2025-11-22

  • SJ 20021-1992 电子管 ＦＵ１０１Ｆ型发射管详细规范

    SJ 20021-1992 电子管 ＦＵ１０１Ｆ型发射管详细规范

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    2025-11-22

  • SJ 20024-1992 行波管测试方法

    SJ 20024-1992 行波管测试方法

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    2025-11-22

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