GB/T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
部分标准内容：UDC621.382
中华xxxx国G家标准
GB/T14032-92
半导体集成电路数字锁相环
测试方法的基本原理
General principles of measuring methodsofdigitalphase-lockedloop
for semiconductor integrated circuits1992-12-18发布
1993-08-01实施
G家技术监督局发布
中华xxxx国G家标准
半导体集成电路数字锁相环
测试方法的基本原理
General principles of measuringmethodsof digital phase-locked l...................
更多内容请下载后查看！
页:
[1]