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GB/T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理

集成电路半导体原理基本 | 国家标准(GB)/机械行业(JB) 3 小时前 2 0star收藏 版权： . 保留作者信息 . 禁止商业使用 . 禁止修改作品
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UDC621.382
中华xxxx国G家标准
GB/T14032-92
半导体集成电路数字锁相环
测试方法的基本原理
General principles of measuring methodsofdigitalphase-lockedloop
for semiconductor integrated circuits1992-12-18发布
1993-08-01实施
G家技术监督局发布
中华xxxx国G家标准
半导体集成电路数字锁相环
测试方法的基本原理
General principles of measuringmethodsof digital phase-locked l...................
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