QB/T 2415—1998.
5.8薄膜脆性温度的测定
5.8.1原理
脆性温度系试样在规定的低温条件下受冲击,不产生破坏的z低温度。
5.8.2设备和材料
a）脆性温度测定仪:由电器箱、低温箱、变速箱,搅拌器、样品夹,冲击头组成,仪器应符合GB/T15256-一1994中第4章规定﹔
b）低温温度计:分度值为1℃,z低温度—50℃;
c）传热介质:工业酒精或聚硅酮类(室温下具有5mtm2/s运动粘度)﹔
d〉致冷剂:液氮或干冰。
5.8.3 步骤
5. 8.3.1试样准备...................
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