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GB/T 4937.27-2023半导体器件 机械和气候试验方法 第27部分：静电放电（ESD）敏感度

半导体测试器件文件 | 国家标准(GB)/机械行业(JB) 10 小时前 4 0star收藏 版权： . 保留作者信息 . 禁止商业使用 . 禁止修改作品
本文件依据半导体器件对规定的机器模型(MM)静电放电(ESD)所造成损伤或退化的敏感度，建立了半导体器件ESD测试和分级的标准程序。本文件相对于人体模型ESD，用作一种可选的测试方法，目的是提供可靠、可重复的ESD测试结果，以此进行准确分级。本文件适用于半导体器件，属于破坏性试验。半导体器件的ESD测试从本文件、人体模型(HBM见GB/T 4937.26)或GB/T 4937系列中的其他测试方法中选择。MM与HBM测试的结果相似但不完全相同。除另...................
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