找回密码
 立即注册
相关推荐换一批
  1. SJ 2215.14-1982 半导体光耦合器入出间绝缘电压的测试方法
  2. SJ 2215.13-1982 半导体光耦合器入出间绝缘电阻的测试方法
  3. SJ 2215.12-1982 半导体光耦合器入出间隔离电容的测试方法
  4. SJ 2215.8-1982 半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法
  5. SJ 2215.6-1982 半导体光耦合器(二极管)结电容的测试方法
  6. SJ 2215.5-1982 半导体光耦合器(二极管)反向击穿电压的测试方法
  7. SJ 2215.4-1982 半导体光耦合器(二极管)反向电流的测试方法
  8. SJ 2215.3-1982 半导体光耦合器(二极管)正向电流的测试方法
  9. SJ 2215.2-1982 半导体光耦合器(二极管)正向压降的测试方法
  10. SJ 2214.10-1982 半导体光敏二、三极管光电流的测试方法
  11. SJ 2214.9-1982 半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法
  12. SJ 2214.8-1982 半导体光敏三极管暗电流的测试方法
  13. SJ 2214.7-1982 半导体光敏三极管饱和压降的测试方法
  14. SJ 2214.3-1982 半导体光敏二极管暗电流的测试方法
  15. SJ 2214.2-1982 半导体光敏二极管正向压降的测试方法
  16. SJ 2214.1-1982 半导体光敏管测试方法总则
  17. SJ 1880-1981 气体激光器频率漂移的测试方法
  18. SJ 1879-1981 气体激光器发散角的测试方法
  19. SJ 1877-1981 气体激光器光束方向偏移的测试方法
  20. SJ 1875-1981 气体激光器输出功率的测试方法
  21. SJ 1874-1981 气体激光器管压降的测试方法
  22. SJ 1871-1981 气体激光器的测试条件
  23. SJ 1881-1981 气体激光器偏振度的测试方法
YD/T 1285-2003.The test method for quality of communication for inter - public telecom network - call complete ratio and post - dialling delay for telephone call.YD/T 1285规定了网间互联互通通信质量中接通率和拨号后时延指标的测试方法,以及电信管理部门进行互联互通指标考核测试时的测试方法。
YD/T 1285适用于管理部门对运营者网间呼叫的接续质量指标的评估与测试,也可作为运营者测量互联互通服务质量的技术依...................
更多内容请下载后查看!

20423172587[下载].rar

204308rc4ui0dkgp9ob4tg.jpg


上一篇:YD/T 1286-2003 IP 电话补充业务技术要求
下一篇:GY/T 5202-2019 广播电视工程建设项目概(预)算编制标准