YD/T 2342-2011.Reliability test method for optoelectronic devices used in telecommunications.YD/T 2342规定了通信用光电子器件可靠性试验方法的一-般要求和详细要求,包括:试验目的、设备、条件、程序、检验及失效判据。
YD/T 2342适用于通信用光电子器件,包括但不限于激光二极管、发光二极管、光电二极管、雪崩光电二极管及由它们组成的组件或模块,简称“光电子器件”。其他领域的光电子器件也可参照使用。...................
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