YY/T 0652-2016/ISO 17853 :2011.Wear of implant materials-Polymer and metal wear particles- Isolation and characterization.
对于磨屑的SEM成像时,使用碳胶带将有磨屑的滤膜粘在SEM样品台上。对滤膜进行喷金或者镀其他导电材料,例如铂或钯,让微粒具有导电性。镀层的厚度应为3 nm~5 nm。用放大倍数为60000~150000的高分辨率SEM在滤膜上随机选择区域获取磨屑图像,加su电压为3keV.同TEM分析一样,手动图像分析具有代表性的S...................
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