GB/T 38532-2020.Microbeam analysis-Electron backscatter diffraction-Measurement of average grain size.GB/T 38532规定了用电子背散射衍射法(EBSD)对抛光截面进行平均晶粒尺寸的测定方法,包含与晶体试样中的位置相关的取向.取向差和花样质量因子的测量要求1。
注1;使用光学显微镜测定品粒尺寸已为大家普遍接受,与其相比.EBSD具有很多技术优势，如高的空间分辨率和晶粒取向的定量描述等。
注2:该方法还可用于一些复杂材料(...................
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