SN/T 4020-2013 纯铁杂质含量测定X射线荧光光谱法

纯铁测定杂质光谱 | 计量标准(JJ)/商检行业(SN) 2025-07-27 67 0

收藏版权： . 保留作者信息 . 禁止商业使用 . 禁止修改作品

SN/T 4020-2013.Determination of impurity elements content in pure iron-X-ray fluorescence spectrometry.SN/T 4020规定了纯铁中杂质元素的波长色散X射线荧光光谱测定方法。
SN/T 4020适用于纯铁中杂质元素硅、锰、磷、硫、铬、铜、镍和铝含量的测定,各元素测定范围见表1。...................
更多内容请下载后查看！

23164358249[下载].rar

上一篇：SN/T 4009-2014 国境口岸蜱类携带嗜吞噬细胞无形体的PCR检测方法
下一篇：SN/T 4022-2014 进出口纺织品痕量铅的测定纳米二氧化钛富集-电感耦合等离子体发射光

支持反对收藏反馈

		自动登录	找回密码
密码			立即注册