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HG/T 5335-2018 分子筛吸附温升测定方法
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HG/T 5335-2018 分子筛吸附温升测定方法
分子筛
吸附
颗粒状
5335
|
电子行业(SJ)/化工行业(HG)
2025-08-08
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HG/T 5335-2018.Determination of temperature rise for molecular sieve.HG/T 5335规定了分子筛吸附放热导致吸附介质产生的前后温差的测定方法。
HG/T 5335适用于各类粉状、颗粒状分子筛。...................
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