部分标准内容:
ICS71.040.99
中华人民共和国G家标准
GB/T20724—2006
薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法Method of thickness measurement for thin crystal byconvergentbeamelectrondiffraction2006-12-25发布
中华人民共和国G家质量监督检验检疫总局中GG家标准化管理w员会
2007-08-01实施
本标准由全G微束分析标准化技术w员会提出。本标准由全G微束分析标准化技术w员会归口。本标准起草单位:北京科技大学。?..................
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