找回密码
 立即注册
文库首页 › 分类大区 › 更多类似资源请点击→ 行业标准 › YD/T 1253-2003 智能网设备测试方法——智能外设(IP)
相关推荐换一批
  1. SJ 2215.14-1982 半导体光耦合器入出间绝缘电压的测试方法
  2. SJ 2215.13-1982 半导体光耦合器入出间绝缘电阻的测试方法
  3. SJ 2215.12-1982 半导体光耦合器入出间隔离电容的测试方法
  4. SJ 2215.8-1982 半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法
  5. SJ 2215.6-1982 半导体光耦合器(二极管)结电容的测试方法
  6. SJ 2215.5-1982 半导体光耦合器(二极管)反向击穿电压的测试方法
  7. SJ 2215.4-1982 半导体光耦合器(二极管)反向电流的测试方法
  8. SJ 2215.3-1982 半导体光耦合器(二极管)正向电流的测试方法
  9. SJ 2215.2-1982 半导体光耦合器(二极管)正向压降的测试方法
  10. SJ 2214.10-1982 半导体光敏二、三极管光电流的测试方法
  11. SJ 2214.9-1982 半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法
  12. SJ 2214.8-1982 半导体光敏三极管暗电流的测试方法
  13. SJ 2214.7-1982 半导体光敏三极管饱和压降的测试方法
  14. SJ 2214.3-1982 半导体光敏二极管暗电流的测试方法
  15. SJ 2214.2-1982 半导体光敏二极管正向压降的测试方法
  16. SJ 2214.1-1982 半导体光敏管测试方法总则
  17. SJ 1880-1981 气体激光器频率漂移的测试方法
  18. SJ 1879-1981 气体激光器发散角的测试方法
  19. SJ 1877-1981 气体激光器光束方向偏移的测试方法
  20. SJ 1875-1981 气体激光器输出功率的测试方法
  21. SJ 1874-1981 气体激光器管压降的测试方法
  22. SJ 1871-1981 气体激光器的测试条件
  23. SJ 1881-1981 气体激光器偏振度的测试方法

YD/T 1253-2003 智能网设备测试方法——智能外设(IP)

测试智能网中华人民共和 | 农业行业(NY)/通信行业(YD) 2025-11-09 26 0star收藏 版权： . 保留作者信息 . 禁止商业使用 . 禁止修改作品
部分标准内容：
中华人民共和国通信行业标准
YD/T1253—2003
智能网设备测试方法智能外设（IP）Test method of intelligent network equipmentIntelligent Peripheral (IP
2003-01-22 发布
2003-01-22实施
中华人民共和国信息产业部发布1
规范性引用文件
缩略语
测试配置
4.1功能性能测试配置
4.2INAP规程测试配置
5功能和性能测试项目
测试项目 1：对 SCF ID 的翻译能力和 ISUP/TUP 参数映射的测试测试编号：1.1
测...................
更多内容请下载后查看！

12383435505[下载].rar

124027z2s1o4sob23totf1.jpg


上一篇：YD/T 1254-2003 接入网技术要求——基于时分双工的以太数字用户线系统(TDD-EDSL):可
下一篇：YD/T 1252-2003 智能网设备测试方法——综合业务控制点(ISCP)