部分标准内容：
中华xxxx国电子工业部部标准半导体光敏二、三极管
脉冲上升、下降时间的测试方法本标准适用于光敏、三极管脉冲上升、下降时间，、1的测试。SJ2214.9-82
测试脉冲上升、下降时间总的要求应符合SJ2214.1一82《半导体光敏管测试方法总则》。脉冲上升、下降时间t，、的测试2、1定义
光敏（二、三极管）在规定工作条件下，调节输人的脉冲光使光敏二、三极管输人相应的脉冲电流至规定值，以输出脉冲前沿幅度的10%...................
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