部分标准内容：
中华xxxx国电子工业部部标准SJ2214.1--82
半导体光敏管测试方法
1982-11-30发布
1983-07-01实施
中华xxxx国电子工业部
中华xxxx国电子工业部部标准半导体光敏管测试方法总则
本标准适用于光缴器件光电参数的测试。光电参数的测试按相应的标准和技术条件的规定进行。1
对光学参数的要求
2.1光学参数的测试误差不大于20%。2.2峰值波长的测试误差不大于±200A。2.3有关光量计量标准应符合相应的?..................
更多内容请下载后查看！
14393718190[下载].rar
|
收藏
