部分标准内容：
ICS29.045
中华人民共和国G家标准
GB/T6624—2009
代替GB/T6624-1995
硅抛光片表面质量目测检验方法Standard method for measuring the surface qualityof polished silicon slices by visual inspection2009-10-30发布
中华人民共和国G家质量监督检验检疫总局中GG家标准化管理w员会
2010-06-01实施
本标准代替GB/T6624一1995《硅抛光片表面质量目测检验方法》。本标准与原标准相比主要有如下变化：GB...................
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