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SJ 2215.8-1982 半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法

压降耦合器饱和测试 | 电子行业(SJ)/化工行业(HG) 2025-12-23 35 0star收藏 版权： . 保留作者信息 . 禁止商业使用 . 禁止修改作品
部分标准内容：
中华xxxx国电子工业部部标准半导体光耦合器输出
饱和压降的测试方法
本标准适用于光耦合器输出饱和压降VcE（san）的测试SJ2215.8--82
测试输出饱和压降总的要求应符合SJ2215.1-82《半导体光耦合器测试方法总则》。2输出饱和压降VeE(a)的测试
2.1定义
发光二极管工作电流I,和集电极电流Ic为规定值时，并保持Ic/Ir3测试步骤
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