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SJ 2215.5-1982 半导体光耦合器(二极管)反向击穿电压的测试方法

击穿反向测试耦合器 | 电子行业(SJ)/化工行业(HG) 2 小时前 1 0star收藏 版权： . 保留作者信息 . 禁止商业使用 . 禁止修改作品
部分标准内容：
中华xxxx国电子工业部部标准半导体光耦合器（二极管）
反向击穿电压的测试方法
本标准适用于光耦合器的二极管反向击穿电压Vx的测试。SJ2215.5-82bzxz.net
测试反向击穿电压总的要求应符合SJ2215.1-82《半导体光耦合器测试方法总则》。2反向击穿电压VBR的测试
2.1定义
被测管通过的反向电流1，为规定值时，在两极间所产生的电压降。2.2反向击穿电压的测试原理图应符合下图。恒流源
3测试步骤
调节恒流电...................
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