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SJ 2215.6-1982 半导体光耦合器(二极管)结电容的测试方法

电容测试耦合器半导体 | 电子行业(SJ)/化工行业(HG) 2025-12-23 65 0star收藏 版权： . 保留作者信息 . 禁止商业使用 . 禁止修改作品
部分标准内容：
中华xxxx国电子工业部部标准房（二极管）
半导体光耦合器
结电容的测试方法
本标准适用于光耦合器结电容C,的测试。SJ2215.6-82
测试结电容C，的要求应符合SJ2215.1一82《半导体光耦合器测试方法总则》。结电容C.的测试
2.1定义
在规定偏压下，被测管两端的电容值。2.2结电容的测试原理图应符合下图。振荡器
3测试步骤
放大器
鉴频器
指示器免费标准下载网bzxz
调节零位，然后放工被测管，在指示器?..................
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14301122194[下载].rar

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