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YDB 122.1-2013 通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间主控接口(HC1)测试方?

非接触测试集成电路卡 | 农业行业(NY)/通信行业(YD) 2025-07-04 46 0star收藏 版权： . 保留作者信息 . 禁止商业使用 . 禁止修改作品
YDB 122.1-2013.Test method for UICC-CLF HCI protocol Part1:Terminal features.YDB 122.1规定了通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间的主控接口(HCI) 终端特性的测试方法，包含HCI的结构、HCP、 指令、端口、HCI流程、非接触卡的模拟、非接触读卡器和连接特性。
YDB 122.1适用于支持HCI技术的终端。本部分的测试流程适用范围中声明仅适用于主机控制器的测试流程可参考用于支持HCI技术的终端的测试。...................
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