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文库首页 › 分类大区 › 行业标准 › QJ 1906-1990 半导体器件破坏性物理分析及失效分析程序和方法
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QJ 1906-1990 半导体器件破坏性物理分析及失效分析程序和方法

分析空航天工半导体 | 航天工业(QJ)/测绘行业(CH) 2 小时前 1 0star收藏 版权： . 保留作者信息 . 禁止商业使用 . 禁止修改作品
部分标准内容：
中华人民共和国航空航天工业部航天工业标准QJ1906-90
半导体器件破坏性物理分析
及失效分析程序和方法
1990-02-13发布
中华人民共和国航空航天工业部1990-12-13实施
中华人民共和国航空航天工业部航天工业标准半导体器件破坏性物理分析及失效分析程序和方法
1主题内容与适用范围
QJ1906-90
本标准规定了半导体器件失效分析前的准备、分析程序、详细的分析方法和分析结果的处理等。
本标准适用于半导体分?..................
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