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QJ A 1906-1997 半导体器件破坏性物理分析(DPA)方法和程序

器件半导体破坏性航天工业 | 航天工业(QJ)/测绘行业(CH) 2025-11-10 40 0star收藏 版权： . 保留作者信息 . 禁止商业使用 . 禁止修改作品
部分标准内容：
QJ1906A-1997G家标准行业规范电子版下载中G航天工业总公司航天工业行业标准半导体器件破坏性物理分析（DPA）方法和程序1.1主题内容
QJ1906A-97
代替QJ1906-90
本标准规定了对半导体器件破坏性物理分析（DPA）的抽样、样品要求、程序、接收/拒收判据、评价、可疑批的处理、分析报告等要求。1.2适用范围
本标准适用于航天产品用半导体器件的验收和超期复验。也适用于已经装入航天产品的半导体器件的质量评定。...................
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