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文库首页 › 分类大区 › 行业标准 › YS/T 679-2008 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法
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YS/T 679-2008 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法

非本载流子稳态表面光 | 纺织行业(FZ)/有色金属(YS) 3 小时前 1 0star收藏 版权： . 保留作者信息 . 禁止商业使用 . 禁止修改作品
部分标准内容：
ICS29.045
中华人民共和国有色金属行业标准YS/T679-—2008
非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法
Test methods for minority carrier diffusion length in extrinsicsemiconductors by measurement of steady-state surface photovoltage2008-03-12发布
G家发展和改Xw员会
2008-09-01实施
YS/T679—2008
本标准修改采用SEMIMF391-1106《非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表?..................
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