找回密码
 立即注册
文库首页 › 分类大区 › 更多类似资源请点击→ 行业标准 › GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
相关推荐换一批
  1. GB/T 11094-2020 水平法砷化镓单晶及切割片
  2. HG/T 4454-2012 塑料 增塑剂迁移的测定
  3. SN/T 4773-2017 玩具材料中N-亚硝胺和N-亚硝基化合物迁移量的测定高效液相色谱-串联
  4. SN/T 4774-2017 玩具材料中特定元素迁移量的测定电感耦合等离子体发射光谱法
  5. GB/T 34079.2-2021 基于云计算的电子政务公共平台服务规范第2部分:应用部署和数据迁
  6. JB∕T 12785-2016 霍尔接近开关传感器
  7. GB 31604.33-2016 食品安全G家标准 食品接触材料及制品 镍迁移量的测定
  8. GB 31604.30-2016 食品安全G家标准 食品接触材料及制品 邻苯二甲酸酯的测定和迁移?
  9. SN/T 2402-2009 玩具中二氯甲烷和三氯乙烯迁移量的测定.
  10. JB/T 7490-2007 霍尔电流传感器
  11. YS/T 679-2008 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法
  12. YS/T 554-2007 铌酸锂单晶
  13. SN/T 0314-1994 出口油炸蚕豆检验规程
  14. SJ 20606-1996 二氧化碲单晶规范
  15. SJ 20605-1996 声表面波(ＳＡＷ)器件用钽酸锂单晶规范
  16. SJ 3249.1-1989 半绝缘砷化镓和磷化铟体单晶材料的电阻率测试方法
  17. SJ 3244.3-1989 砷化镓、磷化铟单晶晶向的测量方法
  18. SJ 3243-1989 磷化铟单晶棒及片
  19. SJ 3241-1989 砷化镓单晶棒及片
  20. GB 10174-1988 单晶刚玉技术条件
  21. SN/T 0977-2000 进出口熟肉制品检验规程
  22. GB/T 20228-2006 砷化镓单晶
  23. SJ 2915-1988 微波铁氧体单晶体器件名词术语和定义
  24. GB/T 5252-2006 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法

GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

霍尔非本迁移单晶 | 国家标准(GB)/机械行业(JB) 5 小时前 1 0star收藏 版权： . 保留作者信息 . 禁止商业使用 . 禁止修改作品
部分标准内容：
ICS 77. 040, 01
中华xxxx国G家标准
GB/T4326—2006
代替GB/T43261984
非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
Extrinsic semiconductor single crystals measurement ofHall mobility and Hall coefficient061214000195
2006-07-18发布
中华xxxx国G家质量监督检验检疫总局中GG家标准化管理w员会
2006-11-01实施
GB/T4326—2006
本标准是对GB/T43261984《作本征半导休单品霍尔迁移?..................
更多内容请下载后查看！

19534287261[下载].rar

195604b6jjjf627gyboit6.jpg


上一篇：GB/T 12497-2006 三相异步电动机经济运行
下一篇：GB/T 11068-2006 砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法